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簡(jiǎn)要描述：美國(guó)QUEST(QI2)光學(xué)成像系統(tǒng)，非接觸式測(cè)量系統(tǒng)MOI 是一種高效且高效的無(wú)損評(píng)估 (NDE) 過(guò)程，可用于檢測(cè)緊固件附近飛機(jī)蒙皮的表面和亞表面裂紋，以及亞表面腐蝕
產(chǎn)品型號(hào)：MOI +廠商性質(zhì)：代理商更新時(shí)間：2024-12-10訪 問(wèn) 量：815
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美國(guó)QUEST(QI2)光學(xué)成像系統(tǒng)，非接觸式測(cè)量系統(tǒng)
20 年來(lái)，磁光成像 (MOI) 在增加飛機(jī)結(jié)構(gòu)的使用和延長(zhǎng)壽命方面發(fā)揮了關(guān)鍵作用。MOI 是一種高效且高效的無(wú)損評(píng)估 (NDE) 過(guò)程，可用于檢測(cè)緊固件附近飛機(jī)蒙皮的表面和亞表面裂紋，以及亞表面腐蝕。使用渦流激勵(lì)，MOI 的快速掃描過(guò)程使飛機(jī)檢查員能夠觀察更多的缺陷細(xì)節(jié)，并大大減少所需檢查的停機(jī)時(shí)間。Qi2 很高興地宣布我們最新的 MOI 系統(tǒng) MOI+。在我們最新的設(shè)計(jì)中，我們有
用數(shù)字接口取代模擬控制
將平視顯示器（耳機(jī)）替換為可連接到成像儀或手持式的 LCD 顯示器
在保持 45 毫米大視野 (FOV) 的同時(shí)縮小了成像器尺寸
增加了數(shù)字視頻輸出以方便記錄檢查
提高了視頻質(zhì)量
美國(guó)QUEST(QI2)光學(xué)成像系統(tǒng)優(yōu)勢(shì)
不需要校準(zhǔn)
顯著節(jié)省檢查時(shí)間
所需的操作員培訓(xùn)最少
不需要脫漆或去除保護(hù)涂層
大面積快速實(shí)時(shí)檢測(cè)
證明比單獨(dú)的渦流探頭快 10 倍
特征
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